Z-новости
В России предложили новый способ измерения оптической толщины тонких пленок
10.04.2023
МОСКВА, 10 апреля. /ТАСС/. Ученые Научно-технологического центра уникального приборостроения (НТЦ УП) РАН и Института ядерной физики имени Г. И. Будкера Сибирского отделения РАН представили новую технику измерения оптической толщины тонких диэлектрических покрытий. Метод позволит быстрее и тщательнее изучать их свойства, что усовершенствует процесс изготовления таких пленок, сообщили в понедельник в пресс-службе Минобрнауки РФ.
Диэлектрические пленки - слои материала, толщина которых находится в диапазоне от долей нанометра (моноатомного слоя) до нескольких микрон. Их применяют во всех оптических устройствах - от специализированных (спектрометры) до потребительских (камеры мобильных телефонов). При изготовлении таких пленок необходимо контролировать их толщину, даже на атомарном уровне. Измерять толщину и оптические свойства (прозрачность, цвет, блеск) даже очень тонких пленок (с толщиной менее 10 нм) помогает метод поверхностного плазмонного резонанса (ППР) - явления перехода энергии света из объемной электромагнитной волны в поверхностную на границе металла и диэлектрика (материала, слабо проводящего электрический ток).
