Z-новости
В ЛЭТИ создали систему для тестирования новейших материалов в передовой электронике
20.04.2023
САНКТ-ПЕТЕРБУРГ, 20 апреля. /ТАСС/. Специалисты Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета (СПбГЭТУ "ЛЭТИ") создали инновационную систему для диагностики и тестирования многослойных полупроводников, толщина слоев в которых составляет всего несколько десятков нанометров. Изготовление таких материалов требует высокой точности, а их применение в электронике позволяет создавать гораздо более эффективные и компактные приборы, сообщили ТАСС в четверг в пресс-службе ЛЭТИ.
"Разработанный учеными ЛЭТИ новый метод диагностики и аппаратно-программный комплекс позволят с высокой точностью проводить изучения характеристик полупроводниковых гетероструктур - многослойных материалов, которые являются основой для современных приборов наноэлектроники и фотоники", - рассказали в пресс-службе.
Многослойные полупроводники представляют собой искусственно выращенные гетероструктуры, которые состоят из множества слоев различных полупроводниковых материалов. Большой вклад в их изучение и дальнейшее применение внес выпускник ЛЭТИ, лауреат Нобелевской премии Жорес Алферов. За десятилетия опытов гетероструктуры доказали, что они открывают гораздо больше возможностей, чем классические кремниевые элементы.
